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四探針方阻電阻率測試儀產(chǎn)品介紹

　　HT-330普通四探針方阻電阻率測試儀

　　適用范圍：

　　1.覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試

　　2.硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，

　　3.EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率，導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，

　　4.抗靜電材料， EMI 防護材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等，

　　功能描述：

　　1. 四探針單電測量方法

　　2. 液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補償.

　　3. 集成電路系統(tǒng)、恒流輸出.

　　4. 選配：PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.

　　5. 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇

　　參照標準：

　　1.硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）.

　　2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.

　　3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.

　　4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

四探針方阻電阻率測試儀技術(shù)參數(shù)

　　技術(shù)參數(shù)：

規(guī)格型model	HT-331	HT-332	HT-333	HT-334	HT-335	HT-336
1.方塊電阻范圍Sheet resistance	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×105Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×104Ω/□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×104Ω/□
2.電阻率范圍Resistivity	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×106Ω-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×105Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×105Ω-cm
測試電流范圍　　Test current	0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA	10μA，100μA，1mA，10mA，100mA	0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA	10μA，100μA，1mA，10mA，　　100mA	0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA
4.電流精度 Current accura	±0.1%	±0.2%	±0.2%	±0.3%	±0.3%	±0.3%
5.電阻精度Resistance	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.顯示讀數(shù)display	液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity
7.測試方式test mode	普通單電測量general single electrical measurement
8.工作電源power	輸入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30W
9.誤差errors	≤4%（標準樣片結(jié)果 Standard Sample results）
10.選購功能choose to buy	選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺；5.標準電阻　　1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test Platform.
11.測試探頭Test probe	探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes. 　　Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.

四探針方阻電阻率測試儀標準配置

四探針方阻電阻率測試儀可選配件

四探針方阻電阻率測試儀相關(guān)視頻

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四探針方阻電阻率測試儀資料下載

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四探針方阻電阻率測試儀相關(guān)產(chǎn)品

HT-303D導(dǎo)電橡膠及靜電橡膠制品電阻率測試儀配置ASTM D 991測試裝置數(shù)字按鍵操作，可選配PC軟件報表導(dǎo)出和數(shù)據(jù)管理；電極組件，由電阻率10TΩ?m的電絕緣材料制成的剛性底座組成，一對電流電極和一對電位電極是以四個電極平行的方式固定它們的頂面在同一水平面。

HT-303表面體積電阻率測試儀適用于測量粉末、粉體、顆粒物、氣體、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測量。

HT-304A織物表面比電阻（電阻率）測試儀用于測量織物、地毯、薄膜以及其他絕緣材料的表面比電阻（表面電阻率），表面比電阻的大小可間接反映試驗材料表面靜電，從而反映試驗材料的帶靜電性.采用施加(100±5）V的直流電壓于被測樣品上進行測量。

HT-304絕緣材料表面/體積電阻率測試儀帶PC測試軟件（選購），USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)。絕緣體的電阻測量基本上與導(dǎo)體的電阻測量相同，其電阻一般用電壓與電流之比得到。現(xiàn)有的方法可分為三大類：直接法，比較法，時間常數(shù)法。

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四探針方阻電阻率測試儀