研磨和拋光配件產品介紹
研磨和拋光配件
可以找到使用雙重夾持原理設計的輕型鋁制試樣夾。一個螺絲固定兩個樣品。該功能能夠實現更快的夾持速度，在大多數情況下還能提高試樣夾的性能。
調平設備可以調平直徑為 140、160 和 200 毫米的試樣夾中的試樣，還有各種類型的儲物柜，以便簡單安全地存放研磨盤和拋光布。
試樣夾
試樣夾使用各種形狀和尺寸的未鑲樣或鑲樣試樣。
試樣夾的直徑為 140、160 和 200 毫米。
不銹鋼或輕質鋁制試樣夾。
雙重夾持以提高性能。
同時可以夾持最多 12 個試樣。
可以調整孔直徑，靈活性更強。
通過簡單、快速夾持節約寶貴的時間。
試樣移動盤
如果要制備單個試樣，則有各種試樣移動盤可用。
由不銹鋼制成
適用于 3-6 個樣品
適用于無孔 Accustop
帶有內圈的 MD-Disc
帶有內圈的磁性制備盤。
直徑有 200、250、300 毫米。
通過內圈可以輕松更換 MD-Disc
AccuStop
用于在 SiC 研磨紙上手動研磨單個金相試樣的試樣夾。
AccuStop 有兩種尺寸：AccuStop 40 可以處理 40 毫米直徑的試樣，而 AccuStop 30 可以處理 30 毫米直徑的試樣。
在標準情況下，AccuStop 可用于這兩種圓柱形樣品，可通過 Flangeform 將法蘭安裝在試樣橡膠環來實現快速固定。
AccuStop-T
AccuStop-T 是專為微電子行業的靶制備設計。
AccuStop-T 獨有的傾斜功能可以同時到達試樣靶平面中的多個點，例如多行錫球和 PCB 通孔。
AccuStop-T 試樣夾可以在任何方向將樣品傾斜 +/- 2 度。
AccuMeter
AccuMeter 測量站是專為與 AccuStop-T 配合使用而設計的。
可以輕松測量傾斜角度，同時配有測量范圍為 0-25 毫米，步長為 10 微米的千分尺。
與 AccuStop 30 配合使用時極為有效。
TargetSystem - 鑲件
與 ?40 毫米鑲樣杯配合使用的鑲件，50 件
最大試樣尺寸 35 x 20 毫米。
TargetSystem - 平行試樣夾
用于平行拋光的適配器（可重復使用）。
最大試樣尺寸 23 x 23 毫米。
TargetSystem - 樣品座
適用于橫截面的適配器（一次性）。
最大試樣尺寸 27 x 20.5 毫米。50 件。
TargetSystem - Target Grip
TargetGrip 是可傾斜樣品夾。其可容納直徑長達 40 毫米的安裝樣品。
用于大型樣品的適配器，橫截面和平行拋光以及 40 毫米到 25 毫米是適配器，可作為 SEM 底座。
研磨和拋光配件技術參數
研磨和拋光配件標準配置
研磨和拋光配件可選配件
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