研磨和拋光配件

可以找到使用雙重夾持原理設計的輕型鋁制試樣夾。一個螺絲固定兩個樣品。該功能能夠實現更快的夾持速度，在大多數情況下還能提高試樣夾的性能。　　 

調平設備可以調平直徑為 140、160 和 200 毫米的試樣夾中的試樣，還有各種類型的儲物柜，以便簡單安全地存放研磨盤和拋光布。

試樣夾

試樣夾使用各種形狀和尺寸的未鑲樣或鑲樣試樣。

試樣夾的直徑為 140、160 和 200 毫米。

不銹鋼或輕質鋁制試樣夾。

雙重夾持以提高性能。

同時可以夾持最多 12 個試樣。

可以調整孔直徑，靈活性更強。

通過簡單、快速夾持節約寶貴的時間。

試樣移動盤

如果要制備單個試樣，則有各種試樣移動盤可用。

由不銹鋼制成

適用于 3-6 個樣品

適用于無孔 Accustop

帶有內圈的 MD-Disc

帶有內圈的磁性制備盤。

直徑有 200、250、300 毫米。

通過內圈可以輕松更換 MD-Disc

AccuStop

用于在 SiC 研磨紙上手動研磨單個金相試樣的試樣夾。

AccuStop 有兩種尺寸：AccuStop 40 可以處理 40 毫米直徑的試樣，而 AccuStop 30 可以處理 30 毫米直徑的試樣。

在標準情況下，AccuStop 可用于這兩種圓柱形樣品，可通過 Flangeform 將法蘭安裝在試樣橡膠環來實現快速固定。

AccuStop-T

AccuStop-T 是專為微電子行業的靶制備設計。

AccuStop-T 獨有的傾斜功能可以同時到達試樣靶平面中的多個點，例如多行錫球和 PCB 通孔。

AccuStop-T 試樣夾可以在任何方向將樣品傾斜 +/- 2 度。

AccuMeter

AccuMeter 測量站是專為與 AccuStop-T 配合使用而設計的。

可以輕松測量傾斜角度，同時配有測量范圍為 0-25 毫米，步長為 10 微米的千分尺。

與 AccuStop 30 配合使用時極為有效。

TargetSystem - 鑲件

與 ?40 毫米鑲樣杯配合使用的鑲件，50 件

最大試樣尺寸 35 x 20 毫米。

TargetSystem - 平行試樣夾

用于平行拋光的適配器（可重復使用）。

最大試樣尺寸 23 x 23 毫米。

TargetSystem - 樣品座

適用于橫截面的適配器（一次性）。

最大試樣尺寸 27 x 20.5 毫米。50 件。

TargetSystem - Target Grip

TargetGrip 是可傾斜樣品夾。其可容納直徑長達 40 毫米的安裝樣品。

用于大型樣品的適配器，橫截面和平行拋光以及 40 毫米到 25 毫米是適配器，可作為 SEM 底座。