儀器.jpg "顯微鏡")
機(jī).png "萬 能試驗(yàn)機(jī)")
境試驗(yàn)箱.png "環(huán)境試驗(yàn)箱")
機(jī).jpg "進(jìn)口打標(biāo)機(jī)")
測量機(jī)/x5.jpg "長度測量")
測儀器.jpg "表面光學(xué)檢測")
測量機(jī).jpg "三坐標(biāo)測量")
自動(dòng)冷凍替代儀產(chǎn)品介紹
可用于低溫包埋和聚合過程的自動(dòng)冷凍替代儀.
Leica EM AFS2主要用于冷凍替代和梯度變溫技術(shù)，同時(shí)也可以用于樹脂的低溫包埋和聚合過程。
Leica EM FSP（冷凍替代驅(qū)動(dòng)器），是為Leica EM AFS2特別設(shè)計(jì)的自動(dòng)化試劑處理系統(tǒng)，可為冷凍替代和梯度變溫過程自動(dòng)稀釋和更換試劑。樣品室內(nèi)部和體視顯微鏡下都裝有LED照明燈，觀察和定位樣品簡單方便。
節(jié)省時(shí)間
自動(dòng)吸取100%濃度試劑,加以稀釋，節(jié)省用戶準(zhǔn)備試劑和設(shè)置儀器的時(shí)間
一體化操作
使用FSP內(nèi)置的LED紫外燈管可對(duì)樣品進(jìn)行快速紫外光聚合，用戶只需設(shè)置好儀器，直到運(yùn)行結(jié)束，無需用戶干預(yù)，稀釋、更換試劑以及紫外聚合將由儀器自動(dòng)完成.
標(biāo)本保持干燥
樣品室內(nèi)液氮?dú)饣俣瓤烧{(diào)節(jié)，保證樣品和樣品室環(huán)境的干燥，避免樣品污染。
自動(dòng)冷凍替代儀技術(shù)參數(shù)
自動(dòng)冷凍替代儀標(biāo)準(zhǔn)配置
自動(dòng)冷凍替代儀可選配件
自動(dòng)冷凍替代儀相關(guān)視頻
暫時(shí)不能提供，如需要詳細(xì)資料，請(qǐng)主動(dòng)與我們聯(lián)系。
自動(dòng)冷凍替代儀資料下載
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自動(dòng)冷凍替代儀相關(guān)產(chǎn)品
儀器/日本Nikon顯微鏡/方JCM 6000臺(tái)式電子掃描顯微鏡.jpg "臺(tái)式電子掃描顯微鏡")
型號(hào):JCM 6000
日本尼康JCM 6000臺(tái)式電子掃描顯微鏡可以簡單轉(zhuǎn)換高真空/低真空兩種模式;使用傾斜旋轉(zhuǎn)馬達(dá)驅(qū)動(dòng)樣品臺(tái)；可以從多角度觀察樣品。
型號(hào): EM CPD300
Leica EM CPD300臨界點(diǎn)干燥儀可以完成微型機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）等樣品的干燥。像花粉、組織、植物、昆蟲等等生物樣品，以及如微型機(jī)電系統(tǒng)（MEMS：Micro Electro Mechanical Systems）等樣品的干燥，使其適宜于SEM檢測，可使用徠卡EM CPD300臨界點(diǎn)干燥儀來完成，干燥過程全自動(dòng)控制。
型號(hào): EM VCT500
Leica EM VCT500真空冷凍傳輸系統(tǒng)可以在冷凍或常溫，真空或保護(hù)氣體條件下傳輸樣品。它可以連接您的工作流程系統(tǒng)，憑借主動(dòng)樣品冷卻和全新的閥門概念優(yōu)化您的樣品傳輸，并在對(duì)接后在工作流程中隨時(shí)監(jiān)控樣品的溫度和真空度。
